BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平,是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
赛多利斯半微量天平
创新的用户界面使您的日常实验室工作变得更加便捷 赛多利斯Quintix®为标准实验室天平各个方面设立了新标准。它的一系列产品特征都使得您的工作流程变得更加高效,比如全自动内部调整、数据直接传输以及符合人体工程学的设计等,最重要的是,它还配备了具有内置应用
laimu AN2060钳形电力功率分析仪
AN2060钳形电力功率分析仪|福禄克FLUKE AN2060钳形谐波分析仪,Analyst 2060电力功率谐波钳形分析仪型号改为Fluke 345 电能质量钳型表 Analyst 2060
梅特勒分析天平XP6U超微量
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ME204梅特勒电子天平 分析天平
ME204梅特勒电子天平 分析天平设计坚固:ME天平的性能持久,坚固的结构和高品质材料,确保您可以在未来的很多年中,始终获取值得信赖的精确结果。
ESJ182-4十万分之一天平
后置式电磁力传感器,天平内装校准砝码,便于随时校准,具有超载/欠载报警、全量程去皮、累加/累减、底钩称量等功能,可满足各种实验室质量分析之需求。可选配RS232接口