蔡司Sigma系列场发射扫描电子显微镜（SEM）
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高品质的成像和分析能力，将场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。可广泛应用于材料科学、生命科学、工业应用等领域。
PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
机器视觉镜头
机器视觉镜头用高性能高分辨率镜头采用超低失真设计，低畸变率，具有多种光学校正方式，大限度的减少像差的发生，使其在空间频率数高的频带处也可维持较高的MTF值，对比度清晰度高。
热场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F是日本电子于2011年7月推出的新一代热场发射扫描电子显微镜，具有超高分辨率和快速高精度分析的特点，束流强度大，稳定性高，特别是在低加速电压下能够获得世界高的图象分辨率。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
TESCAN RISE扫描电镜
RISE扫描电镜将拉曼光谱分析与扫描电子显微镜分析集成为一体，在获得样品微观形貌的同时，可对同一区域进行拉曼光谱检测，这一过程都是自动且样品一直处于高真空状态下，不仅保证结果的高度准确性，同时避免了环境或移动样品时可能造成的污染。该仪器已获得了2014年分析
PicoFemto（皮飞） 透射电镜TEM 加热样品杆
PicoFemto(皮飞)透射电镜TEM加热样品杆，为TEM铜环样品提供室温到高500摄氏度高温的原位变温环境的样品杆。可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。